•시험분석은 장비와 제품이 제대로 작동하는가를 데이터로 증명하는 일이다. 한국산업기술시험원(KTL)의 전기전자 신뢰성 시험은 온습도·진동·충격 등 환경시험과 접촉저항·절연저항 같은 성능시험, MTTF·MTBF·B10 수명을 다루는 수명시험으로 구성되며, 고장 메커니즘을 고려한 가속수명시험을 IEC 60068·JEDEC 등 국제표준에 따라 설계한다 . 반도체 제조의 8대 공정 중 검사(EDS) 단계는 패키징 전에 불량을 가려내는 핵심 공정으로, 시험분석 역량이 수율과 직결된다 . 미세 입자 하나가 불량을 부르므로 시험·검사는 0.1~10μm 입자를 통제하는 클린룸 환경에서 이뤄진다 . 후공정 테스트·신뢰성과 측정평가·불량분석은 별도 학과가 생길 만큼 전문 영역으로 자리 잡았다 . 후공정(BEOL) 단계의 검사는 회로 형성을 마친 칩의 전기적 특성을 측정해 불량을 판정하는 과정이다 . 디스플레이도 패널 제조 후 점등·결함 검사를 거치며, LCD·OLED 공정 특성에 맞춘 시험이 필요하다 .